ВІРТУАЛЬНИЙ СИМУЛЯТОР ДЛЯ ВИМІРЮВАННЯ ПАРАМЕТРІВ АКУСТИЧНИХ ШУМІВ

Автор(и)

  • Р. О. ВІТРУК Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут», Ukraine
  • Л. П. ТКАЧЕНКО Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут», Ukraine

Ключові слова:

симулятор, АЧХ, параметр, акустичний шум, віртуальний

Анотація

Спроектовано віртуальний симулятор вимірювання параметрів акустичних шумів представлений у вигляді з'єднання окремих вимірювальних і обчислювальних блоків. Залежно від завантаженого сигналу, у користувача є можливість самостійно приймати рішення про те, який тип коригуючої АЧХ буде застосовуватися. Кожна операція над сигналом відображається на двох дисплеях.

Біографії авторів

Р. О. ВІТРУК, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»

ФАКС, кафедра інформаційно-вимірювальної техніки

R.O. VITRUK

Л. П. ТКАЧЕНКО, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»

ФАКС, кафедра інформаційно-вимірювальної техніки

L.P. TKACHENKO

Посилання

Singleton L. Analysis of the MEMSTAND survey on standardization for microsystems technology / L. Singleton, R.K. Leach, Z. Cui // Proc. Int. Seminar MEM-STAND. – Barcelona, Spain, 2003. – P. 11-31.

MEMS Industry Report: 2003 ‘‘Focus on Fabrication’’. – MEMS Industry Group, Pittsburgh, USA, 2003.

Nanoscience and nanotechnologies: opportunities and uncertainties. – London: The Royal Society & The Royal Academy of Engineering, 2004. – 116 p.

International Organization for Standardization: TC 229 «Nanotechnologies». – Mode of access: WWW.URL: http://www.iso.org/iso/iso_catalogue /catalogue_tc/ catalogue_tc_browse.htm?commid=381983. – Last access: 2010.

International Electrotechnical Commission: TC 113 «Nanotechnology standardization for electrical and electronic products and systems». – Mode of access: WWW.URL: http://www.iec.ch/dyn/www/f?p=103:7:0::::FSP_O RG_ ID:1315. – Last access: 2010.

Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий» (РОСНАНО). – Режим доступа: WWW.URL: http://www.rusnano.com/ Home.aspx.

Межгосударственный стандарт. ГОСТ 8.592- 2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным раз мерам и выбору материала для изготовления. – Москва, Стандартинформ, 2010 – 11 с.

Межгосударственный стандарт. ГОСТ 8.593- 2009. Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые Методика поверки. – Москва, Стандартинформ, 2010 – 17 с.

Национальный стандарт Российской Федерации. ГОСТ 8.700- 2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового мікроскопа. – М.: Стандартинформ, 2010 – 30 с.

##submission.downloads##

Опубліковано

2015-04-16